Rasterelektronenmikroskope Firmen

... Rasterelektronenmikroskop mit EDX RFA Röntgenfluoreszenanalyse Salzsprühtestkammern Schichtdickenmessung optisch und elektrisch SECM (Scanning electrochemical microscopy) Elektrochemisches Rastermikroskop Stromquellen für Galvanik (gepulst und DC) (mehrere Typen) UV/VIS-Spektroskopie XRD Röntgendiffraktometrie Zug- und Druckprüfmaschine etc.

... Einsatz. Bei der klassischen Metallographie werden Schnitte durch die Probe gelegt, in Kunstharz eingebettet und anschließend die Oberfläche angeschliffen und poliert. Mit speziellen Kontrastiermethoden (Ätzen) werden die Materialstrukturen (Gefüge) sichtbar und lassen sich am Lichtmikroskop oder Rasterelektronenmikroskop betrachten Das am REM angeschlossene EDX-System ermöglicht zudem die...

... Datums und weniger start verdichtet als herkömmlicher Gesteinskalk. Dies zeigt sich sehr deutlich unter dem Rasterelektronenmikroskop (siehe Abbildung), ursprüngliche organische Strukturen sind noch deutlich zu sehen. Durch diese sehr poröse Struktur löst sich der Kalk schneller und kann von der Pflanze sehr leicht aufgenommen werden. Diese luftige Struktur und der sehr feine Vermahlungsgrad...

...Das JEOL Neoscope - Benchtop-Rasterelektronenmikroskop wurde entwickelt, um ein sehr einfach zu bedienendes REM mit intuitiver Navigation und Echtzeit-Elementeanalyse anzubieten.

...Technische Ausstattung: - ZEISS EVO MA 15 – Rasterelektronenmikroskop für Hochvakuum und variablen Druckbereich. - Computergesteuerter REM mit Wolfram-Kathode - Dreilinsige Elektronenoptik Optibeam-Strahlkontrolle - Variabler Druckbereich zwischen 10Pa – 400Pa - EasyVP Druckeinstellung von HV zu VP ohne Wechsel der Druckreduzierblenden - Gaseinlass: Luft Spezifizierte Ortsauflösung...

...Tisch-Feldemissionskanonen-Rasterelektronenmikroskop für hochwertige Bildgebung in allen Disziplinen. 2’000,000 x, 2nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen + FELDEMISSIONSQUELLE mit EXZELLENTER Auflösung + KOMPETITIV MIT FLOOR-MODELLEN + Hochvakuummodus + Mittelvakuummodus + Integrierter Ladungsreduktionsmodus (Niedervakuummodus) + Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV...

...Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomassstab. Beschleunigen Sie Ihre Tomografieabläufe: Verwenden Sie bis zu 100 nA FIB-Strom mit dem exzellenten Punktprofil, um die Lücke zwischen...

... Handling des Gerätes eine wichtige Rolle einnimmt, sind JEOL Rasterelektronenmikroskope die erste Wahl. Durch Ihre Flexibilität hinsichtlich der Erweiterungen und der überdurchschnittlich hohen Lebensdauer, sind JEOL Instrumente für Industrie und Forschungseinrichtungen die perfekte Lösung zur Qualitätssicherung und Produktentwicklung. Alle JEOL REMs können optimal auf die entsprechenden Anwendungen...

...Untersuchungen mittels Rasterelektronenmikroskop Ausführung von EDX-Analysen Im Dezember 2022 haben wir unsere Dienstleistungspalette durch REM-Untersuchungen ergänzt. Das REM ermöglicht zudem EDX-Analysen.

...Mit Hilfe der Rasterelektronenmikroskopie können kleinste Partikel und Oberflächen untersucht werden. Die EDX-Analyse liefert die zugehörigen Element-Zusammensetzung der Mikroproben. Mit dem Rasterelektronenmikroskop können Oberflächen mit einer Vergrößerung von 10-fach bis 50 000-fach abgebildet werden. Bei der Relektronenmikroskopie wird ein gebündelter Elektronenstrahl Zeile um Zeile über...

...Unser Lichtmikroskop ist mit einer Fluoreszenz-Einrichtung ausgestattet. Die Fluoreszenz-Einrichtung ist besonders hilfreich, bei dem Nachweis von Mikrorissen und bei der Identifizierung von Bakterien mit FISH (Fluorescence in situ Hybridization). Mit unserem Rasterelektronenmikroskop (REM) stellen wir Objekte mit einem fokusierten Elektronenstrahl weit jenseits der lichtmikros...

...Das PlasmaPower Conditoner Tool dient als Plasma-Zündquelle für Rasterelektronenmikroskope. Es generiert die Zündspannung für ein FIB-Modul (Focused Ion Beam), z. B. zur Vorbehandlung der Probenoberfläche mit Plasma. Technische Spezifikationen: Eingang: 115 oder 230 V AC +/- 15 % wählbar mit Spannungsumschalter Ausgang: 500 V AC, 20 W, 40 mA LED-Zustandsanzeige Erhältliche Produkte: PlasmaPower Conditioner Tool im Tischgehäuse, Maße: 250 x 174 x 100 mm PlasmaPower Conditioner Tool als Einbausatz für 19“ Rackgehäuse Anschlusskabel Gewicht: 3,3kg...

... Rasterelektronenmikroskope (SEM) als auch Transmissionselektronenmikroskope (TEM) setzen auf diesen Prozess. Das Auflösungsvermögen eines Mikroskops hängt inhärent von der Wellenlänge der elektromagnetischen Strahlung ab, die zur Erzeugung des Bildes verwendet wird. Wenn die Wellenlänge der Strahlung verringert wird, wird das Auflösungsvermögen erhöht. Da Elektronenwellenlängen ungefähr 100.000...

...Analyse von Materialproben auf Asbestfasern (semiquantitativ) gemäß der Richtlinie VDI 3866 Blatt 5 mit einem Rasterelektronenmikroskop mit energiedispersiver Röntgenmikroanalyse (EDX). Aufbereitung: Aufmahlen, Veraschung, Querschnitt oder Säurebehandlung (Abhängig von der zu untersuchenden Probe. Beurteilung durch unsere Experten.)...

... dar. Basierend auf den patentierten microPREP™ Technologieworkflows ist dieses System in der Lage Proben für die Untersuchung mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM), Rasterelektronenmikroskop (REM) oder Atome-Sonden-Tomographie (APT) sowie für mikromechanische Tests mit einen sehr hohen Automatisierungsgrad herzustellen. Durch den Einsatz eines robusten Ultrakurzpulslasers werden die...

... Auflösung bis zur 1000-fachen Vergrößerung in Durch- und Auflicht, so dass neben den metallischen Werkstoffen auch Kunststoffe, mineralische Materialien und Verbundwerkstoffe charakterisiert werden können. Für noch höhere Auflösungen steht uns ein Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Detektor zur Verfügung. Mittels magnetinduktiver sowie wirbelstrombasierter Messverfahren können wir auch zerstörungsfrei...

...In unserem modern ausgestatteten Labor für Oberflächenanalytik werden unsere Schichten, sowie entschichtete Substrate, bei bis zu 100.000-facher Vergrößerung untersucht und optimiert. Laborausstattung: digitales Rasterelektronenmikroskop mit EDX Lichtmikroskope mit digitalen Kameras Fischerscope XRF Kalottenschleifgerät Schichthaftungsmessung Rockwell-Tester Farbwertmessgerät...

...)- Mikroskopie und Raman-Spektroskopie und bilden einen geeigneten, leitfähigen Untergrund für die Abbildung im Rasterelektronen-Mikroskop (EDX/WDX). Kontaminationen innerhalb des Produktionsprozesses sind oft auf Verunreinigungen durch feste Stoffe wie Partikel, Stäube und Organismen, aber auch auf flüssige und gasförmige Stoffe wie Produktrückstände und Aerosole, zurück zu führen. Diese...

...Multifunktionale maschinelle Bearbeitung - Schneiden, Sägen, Schleifen, Polieren, Polieren Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen- mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) oder LM (Lichtmikroskop) entwickelt wurde. Dank eines integrierten Stereomikroskopes können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und problemlos präpariert werden. Modell: Leica EM TXP...

...Mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) werden fraktographische Untersuchungen an Brüchen oder im Labor geöffnete Rissflächen im Rahmen von Schadensfällen durchgeführt. Diese Untersuchungen sind zur Aufklärung der Schadensfälle unerlässlich. Durch die hohe Tiefenschärfe des Rasterelektronenmikroskops lassen sich sowohl unterschiedliche Bruchstrukturen, Bruchausgänge, Bruch- und...

... Backscattered) Die mit einer Feldemissionskathode ausgestatteten Rasterelektronenmikroskope (REM) ermöglichen Materialuntersuchungen im Nanometerbereich. Aufnahmen mit den Sekundärelektronen (SE)-Detektoren sind topographie- bzw. kantenbetont, während Aufnahmen mit dem Rückstreuelektronen (RE)-Detektor den Material- bzw. Channeling-Kontrast zeigen. Zur ortsaufgelösten Elementanalyse stehen...

...Herstellung von Makro- und Mikroschliffe, Korngrößenbestimmung) Zug-, Biege- und Schälversuche an Schweißverbindungen von Kunststoffen Untersuchungen mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) und EDX-Analysen. Das Leistungsangebot im Rahmen der Akkreditierung des Prüflabors durch die Deutsche Akkreditierungsstelle GmbH (DAkkS) kann der Anlage zur Akkreditierungsurkunde entnommen werden. Innerhalb...

... dem mobilen Labor vor Ort ist dies ein Vorteil. Für die Analyse von Proben mit Rasterelektronenmikroskop arbeiten wir mit ausgewählten akkreditierten Auftragslabors zusammen. Leistungen: Asbestanalysen in Feststoffen Raumluftmessungen gemäss Richtlinie VDI-3492 (Istzustandmessungen, Kontrollmessungen, Zonenfreimessungen, Schlussmessungen) Arbeitsplatzmessungen Kontrollmessungen mit Laser (on-line-Messungen) Methodenentwicklung Raumluftmessung: Kontrolle der Asbestfaser-Belastung nach einer Asbestsanierung...

... Energietechnik dem Bau- und Transportwesen, etc. Technische Daten Bildquellen: CCD/CMOS-Kamera Hochgeschwindigkeitskamera Rasterelektronenmikroskop (REM) Atomic-Force-Mikroskop (AFM) Laser-Scanning-Mikroskop (LSM) Röntgen-Computertomographie (CT) ... Unterstützte Bildformate: Alle Standard Bildformate (*.bmp, *.tiff, *.png, *.jpg) Analysen: Verschiebungsfelder lokale Dehnungsfelder...

... Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDX Röntgendiffraktometer Glimmentladungsspektrometer (GDOS) Klimatestkammer (Salzsprühnebeltest, Kondenswassertest) Die Werkstoffprüfung beschäftigt sich neben der Serienprüfung mit der Schadensanalyse und Prüfungen als Dienstleistung unabhängig von der Wärmebehandlung. Wir unterhalten auch mobile Prüfgeräte, wodurch eine Produktprüfung beim Kunden vor Ort möglich ist. Wenn es einen Weg gibt, etwas besser zu machen, finde (-n wir) ihn. Thomas Alva Edison (+HEAT) Röntgendiffraktometer Rasterelektronenmikroskop ...

...Unsere beiden modernen Universal- Rasterelektronenmikroskope ermöglichen Untersuchungen auf technisch höchstem Niveau. Die hochauflösenden Analyseverfahren mit SE-, BSE und ESED- Detektor sowie der Möglichkeit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDX) erlauben, es auch kleinste Fehler und Abweichungen im Material aufzufinden. Die Rasterelektronenmikroskopie stellt ein Schlüsselverfahren...

... Analytik, bestehend aus der präparativen Metallographie, einem Rasterelektronenmikroskop mit angeschlossener energiedispersiver Röntgenspektroskopie, Korrosions- und Durchschlagsprüfständen, Laserprofilometrie, sowie gängige Mikroskopie. ...

... Vormaterialien, der Prozess- sowie der Freigabeprüfung zum Einsatz. Neben Ultraschallprüfungen werden geometrische Größen geprüft sowie Härteprüfverfahren, rechnergestützte Zugversuche und chemische Analysen durchgeführt. Darüber hinaus werden Materialuntersuchungen mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt.

...Übersicht eines Bruches bei 60-facher Vergrößerung unter dem REM Um die Ursache eines Materialversagens zu bestimmen, können mithilfe des Rasterelektronenmikroskop (REM) zur Schadensfallanalytik oder ähnlichen Überprüfungen.

... zahlreiche Verfahren der zerstörungsfreien und zerstörenden Werkstoffprüfung für die Eingangsprüfung der Vormaterialien, der Prozess- sowie der Freigabeprüfung zum Einsatz. Neben Ultraschallprüfungen werden geometrische Größen geprüft sowie Härteprüfverfahren, rechnergestützte Zugversuche und chemische Analysen durchgeführt. Darüber hinaus werden Materialuntersuchungen mit einem Rasterelektronenmikroskop durchgeführt.