Oberflächenanalyse
Eine ideale Ergänzung des Rasterelektronenmikroskops (REM) für die umfassende Charakterisierung winziger Strukturen oder Oberflächendetails bildet unser hochmodernes System für die Röntgenspektroskopie (EDX). Jedes Detail, welches das REM abbildet, kann damit auf seine oberflächennahe Elementzusammensetzung untersucht werden. Neben Punkt- und Linienanalysen ist die Erstellung von „Elementlandkarten“ möglich. Wenn diese dem elektronenmikroskopischen Bild überlagert werden, lässt sich die Elementverteilung auf der Objektoberfläche wirksam charakterisieren.
Für einen Grossteil der Fragestellungen aus den Bereichen Oberflächenmorphologie, Partikelcharakterisierung und Materialanalyse sind REM und EDX in ihrem Zusammenspiel die erste Wahl.
Mikroanalyse mittels Elektronenmikroskopie (REM) und Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Die Mikroanalyse mittels REM/EDX ist eine zerstörungsfrei...
D-Tect X ist eine DICONDE-konforme Röntgeninspektions-Software mit leistungsstarken Bildanalyse- und -optimierungstools für die industrielle Radiograp...
Wärmetransport, Spritzdruck und Schließkraft zeitabhängig betrachten.
Spannungen, die durch unterschiedliche thermische Dehnungen verschiedener Materi...
3D-Konturerfassung durch strukturierte Beleuchtung, Spezielle Beleuchtungssysteme z.B. zur Erfassung metallischer Oberflächen, Kombination mechanische...
Das hervorragende Schnittstellenverständnis sowie das Knowhow bei der Bildverarbeitung machten es möglich dem Kunden ein massgeschneidertes Testframew...
Gerne optimieren wir Ihre Lösung mithilfe spezialisierter CAD-Programme, die präzise Darstellungen zur Platzierung der PV-Module auf Ihrem Dach ermögl...
Zur Optimierung Ihrer Simulations- und CAD-Software bieten wir ebenfalls Plug-In Lösungen für eine Integration innerhalb Ihrer Anwendungsprogramme. Wi...
Dienstleistung Projekt- und Lichtplanung
Konkrete Projektplanung durch Aufnahme aller wichtigen Parameter und Vorabsimulation mit dem Lichtberechnung...
DVC-Software VEDDAC volume zur Bestimmung von 3D-Verformungsfeldern an CT-Daten
VEDDAC volume ist eine Messsoftware zur Charakterisierung von Struktu...
Es wurde untersucht, ob sich der 3D-Kamera IFM O3D-Sensor zur Vermessung der Planheit großer Platten eignet. Ein Testprogramm wurde erstellt, um die S...
Drohnenaufnahmen ermöglichen eine schnelle und aussagekräftige Beurteilung des Pflanzenwachstums, der Pflanzengesundheit und des Schädlingsbefalls gro...
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