Optisches Monitoring misst die wahre optische Dicke und nicht die aufgedampfte oder beschichtete Masse wie bei einem Quarz Monitoring.
Das OMD-8000 mit dem entsprechenden Zubehör bietet auf Wunsch beide Messmethoden in einem Gerät um auch Ihrem Prozess die notwendige Präzision und Genauigkeit zu verleihen.
- Transmission oder Reflektion Mode
- Direkt Monitoring auf dem Substrathalter
- Lichtübertragung über Lichtwellenleiter
- Monochromator basierende Wellenlängenselektion
- Windows basiernde Bedienoberfläche
- Eithernet, serielle oder digitale Schnittstelle
- Vorausberechnung der zu erwartenden Kurve
- Alle gängigen Monitoring Strategien werden unterstützt
- Automatische Verstärkeranpassung
- Digitaler Licht-Chopper
- Stabilisierte Halogen Lichtquelle
- Sehr hohe Rauschimunität
- Sehr genaue Wiederholbarkeit
- Sehr hohe Auflösung
- Sehr grosser Dynamikbereich
- Optionale UV Lichtquelle
- Optionaler Testglaswechsler
- Optionaler Multiwechsler (Testglas & Quarz)
- Optionale Quarz Messung
- Optionaler synchronisierter Substrathalterantrieb
- Optionales Tischgehäuse