Beidseitige Offline-Inspektion - modusAOI MLD1200 V2.0-DS

Das MLD1200 V2.0-DS ist ein Offline-Dual-AOI-System für die gleichzeitige Prüfung von bestückten Leiterplatten von beiden Seiten. Es verfügt über zwei Multi-LED-Leuchtbildscanner sowie unsere patentierten parallaxenfreien Objektive. Es umfasst modus Steuereinheiten mit der neuesten modus Software. Ein Trolley ist optional erhältlich. Produkt-Merkmale Duales System für die beidseitige, gleichzeitige Prüfung von Leiterplatten auf beiden Seiten. Kombination verschiedener Inspektionsaufgaben wie SMD-Bestückung, THT-Lötstellen, konforme Beschichtung und vollständiges Screening auf Lotperlen (Lotkugeln). Erfassen einer beliebigen Anzahl von Barcodes und Data-Matrix-Codes auf der Multi-Leiterplatte. Zeigt das Testergebnis beider Seiten auf einmal an.